在電磁大炒爐中，IGBT是一種具有很大份額的損害。當(dāng)未發(fā)現(xiàn)故障原因時，將對機器進行測試，這將造成IGBT損壞。在電磁大炒爐的維護中，終止不當(dāng)后，總結(jié)了電磁大炒爐的八個原因。

原因1。當(dāng)0.3uf電容器失效或發(fā)生泄漏，400V電容容量變小時，電磁大炒爐和LC振蕩電路的頻率將較高

這將導(dǎo)致IGBT損壞。當(dāng)其他部件無問題時，更換0.3uf和400V電容器。

原因2。IGBT管勵磁電路異常，

振蕩電路輸出的脈沖信號不能直接控制IGBT的飽和度，但必須通過激勵脈沖信號進行放大。如果勵磁信號有問題，則將高電壓加回IGBT管g級，導(dǎo)致IGBT瞬時擊穿和損壞。普通驅(qū)動管s8050和s8550。

原因3。同步電路出現(xiàn)異常。電磁大炒爐中同步電路的主要功能是確保添加到IGBT管G電平上的開關(guān)脈沖與IGBT管上的VCE脈沖同步。當(dāng)同步電路的工作方式不同時，IGBT管會瞬間發(fā)生故障。

原因4。18V工作電壓異常。當(dāng)電磁大炒爐中出現(xiàn)18V電壓時，IGBT管勵磁回路、風(fēng)扇冷卻系統(tǒng)和LM339工作異常，通電時IGBT瞬時損壞。

原因5。冷卻系統(tǒng)異常。當(dāng)電磁大炒爐在高電流條件下工作時，其熱值也較大。如果散熱系統(tǒng)異常，IGBT將會過熱和損壞。

原因6。單片機出現(xiàn)異常。由于單片機內(nèi)部工作頻率異常，IGBT。

原因7。VCE檢測電路異常。VCE檢測電磁大炒爐通過電極偏電壓和采樣傳遞到IGBT集電器上的脈沖電壓，獲得de=采樣電壓。該電壓的信息變化被傳輸?shù)?/span>CPU。CPU監(jiān)控電壓的變化，并做出各種相應(yīng)的指令。當(dāng)VCE檢測電路發(fā)生故障時，VEC脈沖振幅。超過IGBT管的限值，導(dǎo)致IGBT損壞。用戶罐變形，或罐低、不均勻，罐內(nèi)產(chǎn)生的渦流不能均勻加熱變形鍋，導(dǎo)致罐溫度傳感器和溫度檢測異常。CPU因無法檢測到溫度異常信號而繼續(xù)加熱，導(dǎo)致IGBT損壞。